11
 
Image 04

معمل علوم المواد

UV-Vis Spectrophotometer
يستخدم الجهاز لقياس الخواص الضوئية عبر نطاق معين من طيف الموجات الكهرومغناطيسية، وبصفة خاصة يقوم بالتحليل الضوئي للتعرف على مكونات المواد في المحاليل ويستخدم لقياس نسبة الامتصاص والنفاذيه للمواد. يسنخدم في تعيين انوع المواد العضويه وغير العضويه الملونه ،لأن كل عنصر كيميائي يتميز ببصمة خاصة به أي بطيف معين خاص به.

Image 04
FT-IR Spectrophotometer

ويقوم الجهاز بدراسة وقياس وتسجيل تأثير امتصاص روابط المركبات للأشعة تحت الحمراء مما يمكن من معرفة نوع الروابط ومن ثم معرفة التركيب الجزيء للمركب كما يقوم بتتبع سير التفاعلات الكيميائية والتعرف على كافة المركبات الكيميائية سواء أكانت صلبة أو سائلة وعند الحصول على الطيف للمركب فإنه يكون خاص بذلك المركب أي مثل الصورة أو البصمة الخاصة بذلك المركب.
 
: يستخدم عامة ف
تحديد جميع أنواع المواد العضوية وغير العضوية في المركبات
تحديد المجموعات الوظيفية في المواد العضوية
تحديد التركيب الجزيئي للأسطح
التقدير الكمي للمركبات في المخاليط
Image 04
Electron Spin Resonance


G Values يقوم الجهاز بقياس الرنين الالكتروني المغزلي للمركبات التى تحتوى على الكترونات مفردة ويمكن حساب    للمركبات مواضع الدراسة ومنها يمكن معرفة الحالة الالكترونية المغناطيسية للمركب كما يعمل على تحديد العناصر البارامغناطيسية تحديد الشقوق الحرة – Free Radicals   ونسبتها وعددها ،  نسبة الحديد فى الدم والأظافر والشعر ، كما يستخدم فى كافــة المجالات( الطب ،  العلوم ،  بكل أقسامها ، الصيدلة ، الزراعة ، الهندسة)

Image 04
X-ray diffractomete

X-ray powder diffraction (XRD) is a non-destructive rapid analytical technique primarily used for phase identification of a crystalline material and can provide information on unit cell dimensions.  The analyzed material is finely ground, homogenized, and average bulk composition is determined .
Determination of unknown solids is critical to studies in geology, environmental science, material science, engineering and biology.
Applications
  • Identification of fine-grained minerals such as clays and mixed layer clays that are difficult to determine optically .
  • Determination of unit cell dimensions .
  • Measurement of sample purity.
 
  • Determine crystal structures using Rietveld refinement
  • Determine of modal amounts of minerals (quantitative analysis)
  • Characterize thin films samples
  • Requires a few grams of material which must be ground into a powder
  • For mixed materials, detection limit is ~ 2% of sample
  • For unit cell determinations, indexing of patterns for non -isometric crystal systems is complicated
  • Phase Composition of a Sample
  • Quantitative Phase Analysis: determine the relative amounts of phases in a mixture by referencing the relative peak intensities
  • Residual Strain (Macrostrain)
  • Crystallite Size and Microstrain Indicated by peak broadening
  • Other defects (stacking faults, etc.) can be measured by analysis of peak shapes and peak width
Image 04 Inductively Coupled Plasma "ICP"

                                                                             
It's based on Atomic Emission Spectroscopy, where the sample at high temperature plasma up to 8000 Kelvin is converted to free, excited or ionized ions. The excited atom emits radiations when it goes back to ground state, they emitted characteristic radiations and intensities are measured optically by detectors.

Applications:

N.B: All tested samples must be well digested, clear, and almost have water viscosity.
Analysis of Silicon in different plant parts.
Analysis of Silver nanoparticles in animal tissues.
Analysis of Copper, Cobalt and Nickel in alloys.
Analysis of Sodium, Potassium, Calcium and Iron in injection water.
Analysis of Cupper and Lead in fish tissue.
Analysis of Iron, Cobalt, Nickel, Sodium, Arsenic, Manganese and Potassium in ground water.
Analysis of cadmium, Barium, Beryllium, Selenium in Water cannels.